蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡總體描述

   創(chuàng)新的Xradia800Ultra，將高通量實(shí)驗(yàn)室X射線源與專業(yè)的X射線光學(xué)器件整合至一套獨(dú)立的超高分辨率CT掃描X射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM或AFM等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng)microCT技術(shù)之間的空白。

   蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡技術(shù)參數(shù)：

   無(wú)損三維X射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對(duì)同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像

   在原位設(shè)備中樣品成像保持低至50nm的高分辨率

   用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動(dòng)調(diào)整功能

   視野可在15至60μm的范圍內(nèi)進(jìn)行切換

   吸收襯度和Zernike相位襯度成像模式

   在實(shí)驗(yàn)室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測(cè)試你計(jì)劃的同步實(shí)驗(yàn)，讓有限的同步輻射時(shí)間更加有效率

   搭配Scout-and-Scan控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實(shí)驗(yàn)室

   特點(diǎn)：

   Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微觀結(jié)構(gòu)和進(jìn)程可視化，這些是傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室X射線技術(shù)不能實(shí)現(xiàn)的。在X射線能量為8KeV下運(yùn)行，穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。

   集成相位襯度技術(shù)的Xradia800Ultra運(yùn)用Zernike方法在吸收襯度低時(shí)可增強(qiáng)晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。

   蔡司Xradia800Ultra采用類似橫切法的無(wú)損技術(shù)，提供可信賴的內(nèi)部3D信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究。